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成功案例

全自動(dòng)芯片型電感測(cè)包機(jī)測(cè)試解決方案

? 測(cè)試項(xiàng)目 : L, Q, Rdc, 層間短路測(cè)試 

? 測(cè)試儀器 : 電感測(cè)試 WK6500P, 極性測(cè)試 WK4100, 微奧姆表 WK4100, 層間測(cè)試機(jī), 旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu), 噴碼機(jī)(噴墨或雷射), 0~250Amp 直流偏流源自動(dòng)測(cè)試

? 治具測(cè)試座 : 低阻抗四線式測(cè)試

? 測(cè)試表現(xiàn) : 速度_單頻 600~900顆/分, 雙頻 500~700顆/分, 誤判0, 極低誤殺, L,Q,Rdc**測(cè)試

? 電感尺寸: 2520, 2016, 1608,1208...等

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